目錄:島津企業(yè)管理(中國)有限公司>>電子探針X射線微區(qū)分析儀>> EPMA-1720電子探針X射線微區(qū)分析儀
EPMA-1720電子探針X射線微區(qū)分析儀產品簡介:
電子探針(EPMA)是用極細的電子束對樣品表面進行照射產生特征性X射線,對特征性X射線進行分光和強度測定,得到微小區(qū)域的元素組成及樣品表面元素濃度分布的分析裝置。EPMA 采用波長色散型X 射線分光器(WDS),與能量色散型X 射線分光器(EDS)相比,具有高分辨率的特點。因此,EPMA與掃描型電子顯微鏡(SEM)配置EDS 檢測器比較,可以進行更高精度和更高靈敏度的分析。
EPMA-1720電子探針X射線微區(qū)分析儀技術特點:
優(yōu)勢在于傳承52.5°的高X射線取出角技術,可以進行高靈敏度的X射線測定。
高速穩(wěn)定驅動的樣品臺,可以高精度設定分析位置和分析區(qū)域。
配備各種自動功能和聯動功能,電子束的設定簡單易行。
集多年分析經驗于一體的控制分析軟件,實現了從數據采集到數據解析及報告制作的清晰易懂、操作便捷的良好操作環(huán)境。
對于初學者,裝備了從SEM 觀察到定性分析成圖分析的簡易可行的簡單模式。
數據瀏覽程序可以方便地進行數據的批次管理。
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